文件名称:CuW触头着色探伤缺陷的研究

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  • 机械资料
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  • 2019-02-26
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介绍说明

要:重点研究了CuW 触头产品着色探伤缺陷的种类、缺陷材料机械性能、缺陷材料断口形貌宏观分析,提出了CuW 触头着色探伤缺陷的判定原则和方法。材料性能试验结果表明,着色探伤缺陷产品中具有CuW疏松、CuW—Cu界面裂纹、Cu端裂纹和Cu端疏松缺陷的材料其抗拉强度、硬度低于无缺陷材料, 不符合CuW 触头的技术要求;具有CuW—Cu界面气孔缺陷的材料其抗拉强度与无缺陷材料相当,符合CuW 触头的技术要求。通过对CuW 触头着色探伤缺陷断口组织形貌宏观分析,发现着色探伤缺陷部位是CuW 触头的内部缺陷组织,材料缺陷具有一定的深度,在材料受力时预先开裂,产生了应力集中,减少了材料的受力面积,使CuW 触头的机械性能降低,这是导致CuW 触头着色探伤缺陷机械性能低的原因。关键词:CuW 合金
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