文件名称:射线照相缺陷测高—理论与实践的最新进展
介绍说明
射线照相缺陷测高— — 理论与实践的最新进展李衍(无锡锅炉厂无锡214：028)’ 第一部分缺陷对散射线和对比度的影响摘 要提出根据一次曝光在单张射线底片上的缺陷影像对比度来测定缺陷自身高度的方法。这里先讨论缺陷测高的理论基础——缺陷深度位置和缺陷大小对散射线强度乃至射线照相对比度的影响。
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